[請益] 微影時無法分辨二氧化矽與矽的差異

看板 Tech_Job
作者 oway15 (clinical lycanthropy)
時間 2018-02-10 14:46:50
留言 52則留言 (23推 1噓 28→)

不好意思 這類問題我認為有業界經驗的人會比較清楚 所以前來詢問 這個月我進行微感測器的製作 製程僅三道光罩製程 基板有事先沉積5000A的二氧化矽 目前進度是僅完成第一道光罩製程 即是:微影→BOE蝕刻→離子佈值→退火 目前於第二道光罩製程的微影上卡關 https://i.imgur.com/SyajyDr.jpg
https://i.imgur.com/KszApqi.jpg
將目前的試片 直接用顯微鏡照射能看到淺淺的圖型 但是一旦塗佈上光阻 就什麼都看不到了 https://i.imgur.com/lPyVeme.jpg
https://i.imgur.com/GYdFRq2.jpg
上面兩張圖是對準晶圓邊緣的校準記號 但是顯微鏡顯示卻是一片漆黑 原本想說因為我使用的是厚光阻AZ4620 就去中山借用了微影系統 他們使用的是AZ1500 塗佈後光阻厚度僅1.5um 但是當他們光罩對準機的光學顯微鏡一打下去 同樣是一片雪白 無法分辨矽與二氧化矽的差異 可是後來想想要是真的無法分辨矽與二氧化矽 那目前市面上的MOSFET到底是怎麼做出來的? 我認為問題一定出在我製程的某個環節上 不好意思打擾大家 謝謝各位 -- 5000A其實算很厚了吧… 您好 其實顯微鏡夠亮是看得到圖形的 但是那光線強度無法用於微影校正 應該會使光阻曝光… 當時於中山做完微影後 用他們的顯微鏡檢查是可以明顯判別的 不過如下圖所示 無法對準硬曝光的結果就是點都偏掉了 焦距與能量強度因為當時並非我操作 會再詢問謝謝 https://i.imgur.com/Q54CPqb.jpg
會問問看感謝 NEMS版流量太低跑到這邊 真不好意思 感謝各位指點 目前看來我最有可能做到的方法 就是沉積完二氧化矽之後 先微影出校準記號 後續沉積鈦+白金後用金屬剝離法製作出圖形 然後才開始進行反應區製作 已經看到改善的方向了 感謝各位幫忙 謝謝
※ 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 1.200.46.76
※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Tech_Job/M.1518245213.A.90B.html

articbear: 5000A太淺了吧 覺得應該看不到...02/10 14:53

resudi: 光阻的折射率跟二氧化矽太接近了02/10 15:16

youkiller: 就機台差異啊 當你有一台6000萬的機台 你就不會有這02/10 15:23

youkiller: 個問題了 學校呵呵02/10 15:23

poemsing: 列幾種可能:(1)第一道蝕刻吃太淺,導致align mark蓋02/10 15:32

poemsing: 上光阻後不明顯。(2)anneal的thermal budget沒算好,02/10 15:32

poemsing: 導致oxide還是amorphous。(3)確認第二道mask 是不是沒la02/10 15:32

poemsing: yout align mark,很蠢,但是真的有可能……(4)OM or SE02/10 15:32

poemsing: M設定錯誤,OM焦距對比調看看/SEM 能量調高點02/10 15:32

m4vu0: 去問邱主任的實驗室學生02/10 15:33

rgnvgy: 我覺得是p大說的3,la mark 問題 沒有或線寬太小02/10 15:58

sendtony6: 1.5um 很厚好嗎...另外你跑錯地方了02/10 16:04

sendtony6: OM的DOF是nm等級的~你蓋那麼厚看不到前層是很正常02/10 16:06

sendtony6: 4樓亂教 SEM只看的到當層~跟SEM一點關係都沒有02/10 16:12

melzard: 有沒有試過把光阻拔掉再去看一下alignment mark?02/10 16:32

melzard: OM就看不到的話那和SEM就無關聯了02/10 16:34

gj942l41l4: 在MEMS來說1.5um是薄沒錯02/10 16:54

gj942l41l4: 你要不要試試看 整片不曝直接顯影 再拿去外面的OM或02/10 17:00

gj942l41l4: 可能線寬太細了 外面強光看得到的話 可能把mark的線02/10 17:03

gj942l41l4: 寬加大試試02/10 17:03

film: Level sensor?02/10 17:07

gj942l41l4: 反正只要不是蝕刻沒吃出來或光阻流不進去 一切好談02/10 17:10

gj942l41l4: aligment mark的線寬不會影響你實際成品的功能 02/10 17:11

shaddle: 如果你的AM只有0.5um深,看不到很正常02/10 17:32

articbear: 同意樓上S大 我的意思就是5000A要當AM太淺了吧QQ02/10 18:06

articbear: 我之前學生時代做的MOS第二道光罩要對的AM是用metal ga02/10 18:08

articbear: te順便一起做的 02/10 18:08

sendtony6: 製作前段STI的PR都很薄,因為resolution才夠,1.5 um這 02/10 18:24

sendtony6: 種都是後段甚至是封裝業在使用的02/10 18:24

wzmildf: 封裝都馬十幾um在摳的02/10 19:34

lponnn: thermal budget不是這種用法吧?02/10 21:07

lponnn: 抱歉會錯意惹02/10 21:28

ricyear: 電子顯微鏡看不到前層拉 業界都是用雷射光源反射訊號對02/10 21:48

ricyear: 準然後用可見光量測結果拉 02/10 21:48

jkasc28s: 你sio2離子佈值完就洗掉了吧,要一個KEY光罩先RIE基板吃 02/10 22:15

jkasc28s: 出key圖形方便後面對準 02/10 22:15

joshhuang100: 以前用om勉強能看出500a深的Trench你這沒理由看不到 02/11 08:01

j2222222229: 學校機台的問題,有個方法是可以用負光阻搭配oxide02/11 11:11

j2222222229: 做微影變化02/11 11:11

iFann: GG的N28開始double paterning製程段就有這樣狀況02/11 12:01

iFann: 上光阻時有三層(有一層含Si),要搭配不同蝕刻薄膜的連續製程02/11 12:03

iFann: 才能做完(我講的很模糊,關係人應該知道是哪段)02/11 12:03

ming5566: 多一道光罩隨便co個金屬上去當AM不就好惹02/11 12:25

ticketwoon: 一開始先在空地做alignment mark吧。選Au or Ti 加上02/11 14:39

ticketwoon: lift off process 02/11 14:39

S0053011: 想法同上層,但你後面的mark應該要打掉重來,有金屬當mar02/11 19:07

S0053011: k比較好02/11 19:07

lolitass: 看不懂Orz02/11 19:45

ann167c: 同樓上,建議先作一個第0層mark,金屬比oxide的辨識度高 02/12 22:34

giggs11s: 某S6大不要亂教好嗎...,STI層薄是因為DOF小,膜厚才薄 03/04 00:28

giggs11s: ,還有FEOL也是有光阻厚的層,有些離子注入層是使用厚 03/04 00:28

giggs11s: 光阻 03/04 00:28

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